X线头影测量主要是测量X线头颅定位照像所得的影像，对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析，从而了解牙颌、颅面软硬组织的结构，使对牙颌、颅面的检查、诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中去。
主要应用：1.研究颅面生长发育；2.牙颌、颅面畸形的诊断分析；3.确定错畸形的矫治设计；4.研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化；5.外科正畸的诊断和矫治设计；6.下颌功能分析。
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