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探诊考点精讲
探查龋或缺损部位的范围、深浅、质地以及是否敏感及露髓；有无邻面龋坏发生；充填体边缘的密合程度，有无继发龋及悬突；牙本质敏感的部位和敏感程度。
大弯端用于检查（牙合）面，三弯端用于检查邻面。
探诊时采用执笔式握持探针，一定要有支点，动作轻巧，不可用力探入深龋近髓处或可疑露髓孔，以免引起患者不必要的疼痛。
检查时应首先检查主诉部位，然后再按一定顺序，如从右上象限→左上象限→左下象限→右下象限依次进行全口牙的检查，以免遗漏。
考试要求两位考生互为医患，完成检查并填写检查表。检查过程中需谨记检查结果避免遗忘。
普通探针不能用于牙周袋的探诊，以免刺伤牙周组织。
答题标准：
牙周探诊检查（4分）
1.器械选择：牙周探诊用牙周探针，探查根面牙石和根分叉病变时用普通探针。（1分）
2.改良握笔式，口内或口外支点。（0.5分）
3.探诊力量轻，约为20——25g。
探针与牙长轴平行，沿根面深入牙周袋或龈沟，以提插方式移动探针，探邻面时紧贴接触点探入，略向龈谷方向倾斜，有一定顺序。（1分）
4.探查位点：探诊包括六个位点，近中颊、颊面、远中颊、近中舌、舌面、远中舌。（0.5分）
5.探诊内容：牙周袋探诊深度、附着水平、探诊出血、根面牙石和根分叉病变。（1分）
易出现的错误和问题
1.探针选择错误用尖探针探牙周袋深度。牙周探诊检查使用的探针是牙周探针，而探根面牙石时使用的是普通尖探针。
2.牙周探诊时无支点。
3.探诊时探针的角度和方向错误。应注意探针与牙根的长轴一致。
4.探诊力量过大。注意探入时力量要轻，力量过大会导致探入过深，并引起疼痛。
5.移动探针时探针在龈沟或牙周袋内水平划过。牙周探诊过程中探针的移动要提插式移动。
6.邻面探诊只在轴角处探查，未探入龈谷最深部位。应注意采用邻面探诊的方法，以便能探入邻面最深部位。
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