付出就有回报，不懈的努力终于会得到收获。为了帮助各位2024年口腔主治医师考生顺利复习，医学教育网为大家整理“X线头影测量分析”如下：
X线头影测量(cephalometrics)，主要是测量X线头颅定位照相所得的影像，对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析，从而了解牙颌、颅面软硬组织的结构，使对牙颌、颅面的检查、诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中去。
X线头影测量的作用：
1.研究颅面生长发育。
2.牙颌、颅面畸形的诊断分析。
3.确定错（牙合）畸形的矫治设计。
4.研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化。
5.外科正畸的诊断和矫治设计。
6.下颌功能分析。
经典例题：
X线头影测量可做如下分析，除了
A.颅面部生长发育
B.双侧髁突对称性
C.牙、颅面畸形的诊断分析
D.外科正畸的诊断和分析
E.矫治前后，颅面结构变化
【正确答案】B
【答案解析】X线头影测量可做如下分析：①研究颅面生长发育：②牙、颅面畸形的诊断分析；③确定错（牙合）畸形的矫治设计；④研究矫治过程中及矫治后的牙、颌、颅面形态结构变化；⑤外科正畸的诊断和矫治设计；⑥下颌功能分析。
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