1.主诉疾病诊断:左下6中龋。
诊断依据:左下6(牙合)面窝沟探诊卡探针,近中边缘嵴呈墨浸状,探针可探入。冷测试正常,叩诊(-)。X线显示龋损达牙本质浅层。
鉴别诊断:浅龋:探诊有粗糙感或卡探针,X线示龋损达釉质层。
深龋:深龋一般有明显的龋洞,探诊质软,可有痛感,冷测试正常,X线示一般达牙本质深层。
2.非主诉诊断:(1)左下7继发龋。(2)右下6缺失(下颌牙列缺损)。
诊断依据:左下7(牙合)面银汞合金充填体,近中洞缘不密合,探质软。右下6缺失,牙槽嵴平整
3.主诉疾病治疗:左下6去腐充填。
4.其他疾病治疗设计:左下7去除原银汞充填体,视牙体情况重新充填或者行桩核冠修复。右下6可摘局部义齿修复或种植修复或固定桥修复。